Данный проект посвящен глубокому анализу муарового эффекта, явления, возникающего при наложении двух периодических структур. Мы исследуем, как этот эффект влияет на восприятие и измерение пространственного разрешения в различных системах, от цифровых изображений до оптических приборов. В рамках проекта будет разработана модель, позволяющая количественно оценить степень искажения, вносимого муаром, и предложены методы его минимизации или использования в прикладных задачах. Особое внимание уделяется практическому применению результатов для улучшения качества визуализации и точности измерений в научно-исследовательской и инженерной деятельности, что подтвердит фундаментальную связь между интерференцией паттернов и наблюдаемым разрешением.